微小異物特定のための分析手法
異物の発生原因や測定手段、微小物のサンプリング、前処理法等の異物分析デザインを構築することに主を置き、品質管理や異物分析を担当されている方々を対象に、ＦＴ−ＩＲを用いた異物分析事例をできる限り取り入れて説明を行う！
〜ＦＴ−ＩＲを用いた異物分析における、微小物のサンプリング・前処理法およびＩＲスペクトル解析〜
主催：Ｒ＆Ｄ支援センター
日時：2011年8月29日（月） 10：30〜16：30
[講座のポイント]
ＰＬ法施行後、安全性や品質保証面における製造者の責任は重くなっています。その中で製品に発生する異物に関するトラブルは非常に多く、補償による多額の賠償や社会風評でのイメージダウンといった社運を左右しかねない問題に発展するケースもあります。このような異物は早急に特定し、原因を追究し対策をとらなくてはなりません。
本セミナーでは多種の業種（化学，電気，機械，食品，建築，医療など）における異物問題を解決するため、発生原因や異物の測定手段、微小物のサンプリング、前処理法等の異物分析デザインを構築することに主を置きます。品質管理や異物分析を担当されている方々を対象として、主にＦＴ−ＩＲを用いた異物分析事例をできる限り取り入れて説明いたします。
[プログラム]
１．異物とは
1-1 異物の一般的な定義
1-2 異物分析の歴史
1-3 異物の分類
1-4 異物の発生原因の推定
1-5 異物の形状
２．異物の分析方法
2-1 目的とＰＬ法
2-2 一般的な異物の分析方法
2-3 一般的に用いられる異物分析のための装置
2-3-1 ＦＴ−ＩＲ
2-3-2 電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＴＥＭ）
2-3-3 その他（顕微ラマン，イメージング，Ｐｙ−ＧＣＭＳ，ＥＰＭＡ，ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）
３．異物の前処理法
3-1 異物の観察
3-2 前処理の必要性
3-3 微小物や埋没物のサンプリング方法（手作業，マニピュレーター）
3-4 その他の前処理
3-4-1 断面作製
3-4-2 マイクロ前処理（抽出，ろ過）
４．異物分析事例
4-1 ＦＴ−ＩＲを用いた事例
4-2 その他の分析装置を用いた事例
５．スペクトル解析
5-1 ＩＲスペクトルの解析
5-2 その他のスペクトルの解析
６．まとめ、質疑応答
