ＬＥＤの信頼性・故障率・寿命評価および熱管理

信頼性が初めての人や、半導体はもとよりＬＥＤを扱うことに慣れていない人にもわかりやすく解説！

日時：2012年12月12日（水）　10：30〜16：30

【講座のポイント】
　次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されているＬＥＤは固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンＩＣやＬＳＩの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。　　本セミナーではまず、ＬＥＤの信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、ＬＥＤシステムの信頼性設計のポイントを解説します。とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。　　続いて、ＬＥＤの熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などのＬＥＤシステムも含めた放熱設計検証ツールとして、またＬＥＤの実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。

【受講対象者・レベル】
　ＬＥＤ照明等、ＬＥＤを使用した装置、システムの設計担当者、ＬＥＤを含めた半導体デバイスの信頼性評価に携わる方や、これから取り組まれる方など

【プログラム】
１．LEDの信頼性の特徴
　　1-1　半導体デバイスの信頼性とは何か＜信頼性の２つの側面＞
　　1-2　故障率のバスタブカーブにみるLED信頼性の特徴
　　1-3　LEDで想定される故障モードと故障メカニズム
　　1-4　LEDの信頼性への取組み＜シリコンICやLSIとの基本的な違い＞
２．メーカ、研究機関のデータから
　　2-1　各社のLED信頼性試験データと照明器具設計者向けツール
　　2-2　LED寿命予測方法とLM-80テストレポート
　　2-3　照明器具全体の信頼性設計
　　2-4　電解コンデンサで支配されるLED駆動回路の寿命予測報告例
　　2-5　報告データから導き出せるLED寿命の活性化エネルギーの分析と比較
３．LED寿命評価に関する標準化の動き
　　3-1　ASSIST勧告の動向と現状
　　3-2　LEDダウンライト試験報告例
　　3-3　IES規格　LM-80の紹介と分析及び寿命推定法（TM-21)
　　3-4　LED照明器具の"Energy　Star"適合基準
　　3-5　LED寿命評価に関するIEC,JISの動向
４．偶発故障の故障率
　　4-1　偶発故障で決まる故障率の推定
　　4-2　信頼水準と期待故障数の計算
　　4-3　信頼度評価試験に必要なサンプル数
５．マルチLEDシステムの信頼性設計
　　5-1　マルチLEDシステムに要求される信頼性
　　5-2　交通信号灯をモデルとしたシミュレーション
　　5-3　加速寿命試験による故障率予測とデバイスアワーの壁
６．磨耗故障による故障率
　　6-1　LED寿命評価のポイント＜なぜ分布データとしての統計的調査が必要か＞
　　6-2　LED寿命に至る前に生ずる故障率急増の脅威
　　6-3　現状よりもさらに大幅な寿命改善を必要とする理由
　　6-4　長寿命LEDの寿命評価の難しさとその打開策
　　6-5　温度加速試験が成り立つための条件と温度加速試験の失敗例
７．LEDの発熱と熱抵抗評価
　　7-1　LED発熱の起源＜LEDからの発熱は従来光源と比べてどこが異質か＞
　　7-2　LED発熱と光出力の低下及びLEDの温度・電流による波長シフト
　　7-3　蛍光体を有する白色LEDの温度による波長シフト
　　7-4　LEDに特異的な温度によるVFの挙動
　　7-5　シリコンとは異なるVFの温度係数(K　Factor)とその理論的背景
　　7-6　接合温度の推定と熱抵抗測定法
　　7-7　Heating　Curveの解析と熱設計検証への応用
　　7-8　過渡熱抵抗測定によるLED実装不良解析と品質管理への応用
８．まとめ

【質疑応答・名刺交換】