電子部品の信頼性試験と不具合解析技術
信頼性試験や市場で発生した不具合の解析方法、フィードバック方法について具体例も交えて解説！
主催：Ｒ＆Ｄ支援センター
日時：平成22年1月29日（金） 12：30-16：30
≪講座趣旨≫
市場における電子部品の品質の長期安定性を確保するためには、その部品について設計、開発あるいは量産初期段階において適切な信頼性試験を行い、その結果を設計パラメータや製造条件などに的確にフィードバックすることが重要です。一般に信頼性試験は長期間を要するものが多く、加速試験により試験時間を短縮します。
今回の講演では、電子部品等における信頼性試験の基本を解説し、次に具体的な電子部品における信頼性試験項目および試験方法を解説し、加速係数の決定方法や試験結果の解析方法について説明します。 さらに、信頼性試験や市場で発生した不具合の解析方法を説明し、そのフィードバック方法について具体例も交えて解説します。
≪プログラム≫
１．信頼性試験
1.1 信頼性の基礎
1.2 信頼性試験方法
1.2.1 信頼性試験の分類
1.2.2 電子部品に適用される信頼性試験
1.2.3 故障率
1.3 加速寿命試験
1.3.1 加速試験の考え方
1.3.2 加速モデル：アレニウス則モデル、パワー測モデル、マイスナー則モデルなど
1.3.3 加速係数：温度、湿度、熱衝撃試験の条件設定
1.3.4 試料数の決め方
２．主な電子部品の信頼性試験
2.1 半導体部品
2.1.1 半導体部品の種類
2.1.2 半導体部品の主な不具合モードと信頼性試験方法
2.2 コンデンサー
2.2.1 コンデンサーの種類
2.2.2 コンデンサーの主な不具合モードと信頼性試験
３．不具合解析技術
3.1 解析手順
3.2 具体的な解析方法と事例紹介
４．まとめ
【質疑応答・個別相談・名刺交換】
